在光學測量領域，高分辨率與緊湊體積往往如同魚與熊掌，不可兼得。然而，北京泰坤工業設備有限公司帶來的全新德國NYLIS高分辨率紫外/可見光譜儀，憑借其突破性的光學設計，正在重新定義微型光譜儀的性能邊界。

圖：NYLIS光譜儀，將高性能蘊藏于緊湊機身之中

核心亮點：當“小巧"遇見“*"

NYLIS光譜儀的核心魅力，源于其基于Aris系列平臺的革新。它采用了焦距達120mm的對稱式Czerny-Turner光學設計，相較于同尺寸產品，更長的焦距帶來了更優的光學成像效果和更低的像差，使其能夠實現低至0.05nm (FWHM) 的驚人光譜分辨率。這一數據，在如此緊湊的機身內（67.0 × 150.0 × 19.0 mm），令人驚嘆。

圖：優化的對稱式Czerny-Turner光路，是實現超高分辨率的基石

精準捕獲每一納米：波長范圍與分辨率詳解

NYLIS系列專為對分辨率有高要求的應用而生，例如激光表征、精細原子光譜分析等。它標配10μm的入射狹縫和4096像素的Hamamatsu S13496 CMOS傳感器，海量像素確保了微弱光譜細節也能被精準捕捉。

產品提供多種標準波長范圍配置，以滿足不同領域的精細測量需求：

• 超精細分析系列：如 400-500 nm、500-600 nm 等波段，典型分辨率可達 0.05 nm，適用于分析激光器的單模特性或復雜元素的特征譜線。

• 寬譜通用系列：如 400-1000 nm，典型分辨率 0.33 nm，兼顧了寬覆蓋范圍和不錯的分辨能力，適用于常規光譜分析。

圖：NYLIS在不同標準波長配置下的典型與分辨率表現

值得注意的是，用戶還可根據需求定制起始和終止波長，甚至更換從10到300μm不等的入射狹縫，以在靈敏度和分辨率之間找到適合應用的平衡點。

性能參數速覽：不止于“高分辨率"

一臺優秀的光譜儀，是光學、電子學和機械設計的結合。NYLIS在這些方面同樣表現良好：

• 光學特性：采用對稱式Czerny-Turner設計，焦距120mm，數值孔徑0.07。內置探測器鏡頭和可選的級次分選濾光片，有效抑制雜散光（0.1%），確保測量純凈度。

• 電子學與接口：16位A/D轉換器，信噪比高達550，動態范圍5500:1。支持通過USB 2.0或UART進行通信，并配備了觸發輸入/輸出、模擬輸入/輸出等豐富接口，便于集成到復雜的自動化系統中。其Type-C USB接口和16針輔助接口，保證了高速數據傳輸與外部設備控制的便捷性。

• 軟件與開發支持：標配支持Windows 7及以上版本的應用軟件，并提供完整的軟件開發包（SDK），包含演示代碼和驅動文檔，讓二次開發變得異常簡單。

應用場景聚焦：為嚴苛測量而生

由于其設計上對分辨率的高追求，NYLIS在以下場景中具有顯著優勢：

• 激光表征：精確測量激光的線寬、中心波長及邊模抑制比。

• 氣體檢測：分辨具有精細吸收結構的特征氣體，如NOx、Hg等。

• 等離子體診斷：監控等離子體發射光譜中的細微變化。

• 科研教學：用于原子光譜、分子光譜學的高精度實驗。

訂購與服務

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德國Avenir NYLIS系列高分辨便攜光纖光譜儀有北京泰坤工業設備有限公司總代理。